专利名称：金属探测仪（折叠式，TX-610）专利类型：外观专利发明人：曹楠
申请号：CN202030496708.7申请日：20200827公开号：CN306296639S公开日：20210126
专利附图：
申请人：上海天巡电子设备有限公司
地址：201799 上海市青浦区公园路99号舜浦大厦二层J区224室
国籍：CN
代理机构：上海弼兴律师事务所
代理人：胡美强
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