专利名称：一种安全芯片掉电测试设备专利类型：发明专利
发明人：白志华,王连胜,黎金旺,王慧,董扬申请号：CN201410383951.1申请日：20140806公开号：CN105372619A公开日：20160302
摘要：本发明公开了一种安全芯片掉电测试设备，包括：主控模块、开关模块、芯片插卡槽，所述主控模块通过USB接口与上位机进行通信，接收所述上位机的掉电指令，并对所述掉电指令进行解析得到掉电控制信号；所述主控模块通过所述开关模块将所述掉电控制信号传输到所述芯片插卡槽的待测芯片，控制所述待测芯片进行掉电。本发明的安全芯片掉电测试设备，通过单片机控制双向转换芯片上下电，延时时间短，时间精确；既支持7816接口芯片测试，也支持SPI接口芯片测试，应用范围广；通过APDU命令控制掉电，掉电起始点设置方式多，使用灵活，测试更全面。
申请人：国家电网公司,北京南瑞智芯微电子科技有限公司
地址：100031 北京市西城区西长安街86号
国籍：CN
代理机构：北京中誉威圣知识产权代理有限公司
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