专利名称：基于光学测微原理的高精度量尺专利类型：实用新型专利
发明人：廖孟光,李羲,李朝奎,易四海申请号：CN201720239156.4申请日：20170313公开号：CN206514818U公开日：20170922
摘要：本实用新型公开了基于光学测微原理的高精度量尺，所要解决的问题是如何精确测量隧道、桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸。该量尺基于光学测微原理的高精度量尺，包括若干短尺和光学测微器，短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体，光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上，对准横截面较小的短尺上的刻度，量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端，垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。伸开量尺，使其内测端抵住空间内壁或者外测端夹住物体外径，因此量尺长度严格为两端点之间距离，同时光学测微器精度很高，共同保证了测量的精度。
申请人：湖南科技大学
地址：411201 湖南省湘潭市雨湖区桃园路1号
国籍：CN
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