专利名称:基于双通道制式实现电磁辐射发射自动测试的系统
及方法
专利类型:发明专利发明人:何蔚,戎玲,鲍逸明申请号:CN202010474517.X申请日:20200529公开号:CN111505392A公开日:20200807
摘要:本发明涉及一种基于双通道制式实现电磁辐射发射自动测试的系统,包括第一接收天线,设置为水平极化;第二接收天线,设置为垂直极化;第一自动控制天线塔,与所述的第一接收天线相连接;第二自动控制天线塔,与所述的第二接收天线相连接;控制室,与所述的第一自动控制天线塔和第二自动控制天线塔均相连接;被测设备放置在测试桌上,被测设备位于第一接收天线与第二接收天线连线的垂直中线上。本发明还涉及一种基于双通道制式实现电磁辐射发射自动测试的方法。采用了本发明的基于双通道制式实现电磁辐射发射自动测试的系统及方法,相对于单天线通道接收方式的测试系统,不仅实现了辐射发射自动测试,而且大大缩短了测试时间,提高了测试效率。
申请人:第三研究所
地址:200031 上海市徐汇区岳阳路76号
国籍:CN
代理机构:上海智信专利代理有限公司
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