专利名称:氮化镓晶体管及其制造方法专利类型:发明专利
发明人:刘美华,孙辉,林信南,陈建国申请号:CN201610178244.8申请日:20160325公开号:CN107230625A公开日:20171003
摘要:本发明提供一种氮化镓晶体管及其制造方法,其中方法包括:在硅衬底的表面上方形成未掺杂的氮化镓层,在所述未掺杂的氮化镓层的表面上方形成氮化镓铝层;在所述氮化镓铝层的表面上方沉积一层氮化硅,形成介质层;对所述介质层、所述氮化镓铝层和所述未掺杂的氮化镓层进行刻蚀,形成漏极接触孔和源极接触孔;在所述漏极接触孔和源极接触孔中再生长出N型掺杂的氮化镓层,并在所述漏极接触孔中的N型掺杂的氮化镓层的上方形成漏极,在所述源极接触孔中的N型掺杂的氮化镓层的上方形成源极。本发明提供的氮化镓晶体管及其制造方法,能够减小欧姆接触电阻,增加器件电流,提高器件的整体性能。
申请人:北京大学,北大方正集团有限公司,深圳方正微电子有限公司
地址:100871 北京市海淀区颐和园路5号
国籍:CN
代理机构:北京同立钧成知识产权代理有限公司
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